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产品名称:X射线萤光光谱仪JSX-3400R
产品编号:004
产品简介: 日本电子 JSX-3400R型
X射线萤光光谱仪主要性能介绍

新型号X射线萤光光谱仪JSX-3400R,是日本电子株式会社推出的新一代高性能能量色散型光谱仪。该设备具有出众性能指标,不仅能很好对应RoHS指令、ELV指令和其他环境指令相关元素分析,指令以外的一般元素也能在高感度下测试分析。
主要特点为:液氮製冷型探头、世界最高探头解析度、同等时间内最高检出限度、测试时间短、各类优异软体、专利能量过滤装置等。该产品畅销世界各地,在同类型产品中性能卓越,其稳定优异性能深受广大用户的好评与推崇,主要的性能介绍如下:

1.大功率X射线管:
1-1.管电压5~50 kV/0.25 kV每级
1-2.管电流0~1.0 mA/0.005 mA每级
1-3.功率50W (50KV时可用1mA电流,而25W的在50KV时仅能用0.5mA电流。设备对超微量元素、轻元素以及薄膜测定优越性强)

2.高解析度液氮製冷型检测器
2-1.高感度高解析度Si(Li)型,检测器解析度保证在149eV以下(目前为世界同类产品的最高解析度)。
2-2.检测器为液氮製冷型,每日消耗液氮1升以下。

3. 专利的X射线能量过滤机构(JEOL专利)
3-1.设备具有四类可自动更换的X射线能量过滤机构。(X射线能量过滤范围覆盖:0~8KeV低能量领域、8~17KeV中能量领域、以及15~30KeV高能量领域。)
3-2.过滤性能覆盖RoHS指令Cd/Pb/Hg/Cr/Br等多元素。
3-3.X射线能量过滤机构的功能包括如下:
a. 减除了X射线管发出的干扰波峰;
b. 实现了波峰背景(噪音)的低减;
c. 避免共存元素影响。
(同时能解决测试的三大问题的日本电子的X射线能量过滤机构已申请专利,传统结构过滤片仅实现a功能)

4.检量线长期有效性
4-1.通过设备的校正功能,配置的各种检量线长期使用完全有效,不会因为设备性能劣化,造成精度降低,而需要各种标样重新作成检量线。

5.大范围X射线照射区域
5-1.通过三类准直器可以实现:1 mmφ、5mmφ、15mmφ的区域照射分析。

6.材质资料库、检量线自动选定
6-1.配置强大的Q-Base材质资料库,自动材质判定并自动选定检量线,操作非常简便。

7.自动开启样品室
7-1.样品环境:大气、真空(选项)
7-2.最大样品尺寸:300mmφx150mm
7-3.样品室为自动开启型
7-4.测试样品可包括:固体、粉体和液体。(如常见各类树脂/陶瓷/电子产品/五金/焊锡/含水物质/各类溶液等。)

8.大倍率可变焦样品观察装置(CCD相机) (选项)
8-1.配置样品观察装置(CCD相机),方便样品定位和观察。

9.高性能测试软体
9-1.定性分析软体(自动定性、手动定性、定性元素、非定性元素的指定软体)
9-2.定量分析(含检量线法、FP法软体)
9-3.补正检量线法(样品厚度?照射面积?材料性质?共存元素补正软体)
9-4.一键完成软体(RoHS指令物质管理分析专用软体)(日本电子特色)
9-5.装置校正软体
9-6.体积FP法
9-7.薄膜FP法
9-8.Q-Base各种材料资料库
9-9.Smile View软体
9-10.树脂5元素分析软体
9-11.金属分析软体
9-12.报告作成软体
9-13其他可选软体(焊锡镀层分析软体等)
其中的补正检量线法是经受得住验证的日本电子的特色软体之一,不仅实现一般检量线法的样品厚度、照射面积补正,进一步实现了材料性质、共存元素 (常见样品问题,尤其在超微量测量时补正重要)导致偏差的补正。

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